KIỂM TRA VÀ BAO GÓI DIODE HÀN DÒNG ZW
Phương pháp kiểm tra và quy tắc kiểm tra
1. Kiểm tra theo lô (kiểm tra nhóm A)
Mỗi lô sản phẩm phải được kiểm tra theo Bảng 1 và tất cả các mục trong Bảng 1 đều không bị phá hủy.
Bảng 1 Kiểm tra mỗi lô
| Nhóm | Điều traMục | Phương pháp kiểm tra | Tiêu chuẩn | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Vẻ bề ngoài | Kiểm tra trực quan (trong điều kiện ánh sáng và tầm nhìn bình thường) | Logo rõ ràng, lớp mạ bề mặt không bị bong tróc, hư hại. | 1,5 |
| A2a | Đặc điểm điện từ | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) trong JB/T 7624—1994 | Phân cực đảo ngược:VFM>10USL IRRM>100USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4.1(25℃) trong JB/T 7624—1994 | Khiếu nại các yêu cầu | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25℃,170℃) trong JB/T 7624—1994 | Khiếu nại các yêu cầu | ||
| Lưu ý: USL là giá trị giới hạn tối đa. | ||||
2. Kiểm định định kỳ (kiểm định nhóm B và nhóm C)
Theo Bảng 2, các sản phẩm hoàn thiện trong quá trình sản xuất bình thường phải được kiểm tra ít nhất một lô Nhóm B và Nhóm C mỗi năm và các hạng mục kiểm tra được đánh dấu (D) là các kiểm tra phá hủy.Nếu kiểm tra lần đầu không đạt yêu cầu thì có thể lấy mẫu kiểm tra lại bổ sung theo Phụ lục Bảng A.2 nhưng chỉ một lần.
Bảng 2 Kiểm tra định kỳ (Nhóm B)
| Nhóm | Điều traMục | Phương pháp kiểm tra | Tiêu chuẩn | kế hoạch lấy mẫu | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Chu kỳ nhiệt độ (D) tiếp theo là niêm phong |
| Đo lường sau khi kiểm tra:VFM≤1.1USL IRRM≤2USL không rò rỉ | 6 | 1 |
| CRRL | Đưa ra ngắn gọn các thuộc tính có liên quan của mỗi nhóm, VFM và tôiRRMgiá trị trước và sau khi thử nghiệm, và kết luận thử nghiệm. | ||||
3. Kiểm tra định danh (kiểm tra nhóm D)
Khi sản phẩm được hoàn thiện và đưa vào thẩm định sản xuất, ngoài việc kiểm tra nhóm A, B, C, còn phải thực hiện kiểm tra nhóm D theo Bảng 3, và các hạng mục kiểm tra được đánh dấu (D) là kiểm tra phá hủy.Việc sản xuất bình thường các sản phẩm cuối cùng phải được kiểm tra ít nhất một lô Nhóm D ba năm một lần.
Nếu kiểm tra lần đầu không đạt, có thể lấy mẫu bổ sung kiểm tra lại theo Phụ lục Bảng A.2, nhưng chỉ một lần
Bảng kích thước đầy đủ
| No | Nhóm | Điều traMục | Phương pháp kiểm tra | Tiêu chuẩn | kế hoạch lấy mẫu | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Kiểm tra tải chu trình nhiệt | Thời gian chu kỳ: 5000 | Đo lường sau khi kiểm tra:VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Sốc hoặc rung | 100g: giữ 6ms, dạng sóng nửa hình sin, hai hướng 3 trục vuông góc với nhau, mỗi hướng 3 lần, tổng cộng 18 lần.20g: 100~2000Hz，2h mỗi hướng, tổng cộng 6h. | Đo lường sau khi thử nghiệm: VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Đưa ra ngắn gọn dữ liệu thuộc tính có liên quan của từng nhóm, VFM , IRRMvà tôiDRMgiá trị trước và sau khi thử nghiệm, và kết luận thử nghiệm. | |||||
đánh dấu và đóng gói
1. Đánh dấu
1.1 Dấu trên sản phẩm bao gồm
1.1.1 Số sản phẩm
1.1.2 Dấu hiệu nhận dạng thiết bị đầu cuối
1.1.3 Tên công ty hoặc nhãn hiệu
1.1.4 Mã nhận dạng lô kiểm tra
1.2 Logo trên thùng carton hoặc hướng dẫn kèm theo
1.2.1 Model sản phẩm và số tiêu chuẩn
1.2.2 Tên và logo công ty
1.2.3 Biển báo chống ẩm, chống mưa
1.3 Gói
Yêu cầu đóng gói sản phẩm phải tuân thủ các quy định trong nước hoặc yêu cầu của khách hàng
1.4 Tài liệu sản phẩm
Mẫu sản phẩm, số tiêu chuẩn triển khai, các yêu cầu về hiệu suất điện đặc biệt, hình thức bên ngoài, v.v. phải được nêu trên tài liệu.
Cácđiốt hànđược sản xuất bởi Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor được ứng dụng rộng rãi trong máy hàn điện trở, máy hàn tần số trung bình và cao lên đến 2000Hz trở lên.Với điện áp cực đại phía trước cực thấp, khả năng chịu nhiệt cực thấp, công nghệ sản xuất hiện đại, khả năng thay thế tuyệt vời và hiệu suất ổn định cho người dùng toàn cầu, đi-ốt hàn của Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor là một trong những thiết bị đáng tin cậy nhất của ngành điện Trung Quốc sản phẩm bán dẫn.