KIỂM TRA VÀ BAO GÓI DIODE HÀN DÒNG ZW

Phương pháp kiểm tra và quy tắc kiểm tra

1. Kiểm tra theo lô (kiểm tra nhóm A)

Mỗi lô sản phẩm phải được kiểm tra theo Bảng 1 và tất cả các mục trong Bảng 1 đều không bị phá hủy.

Bảng 1 Kiểm tra mỗi lô

Nhóm Kiểm tra hàng

Phương pháp kiểm tra

Tiêu chuẩn

AQL (Ⅱ)

A1

Vẻ bề ngoài Kiểm tra trực quan (trong điều kiện ánh sáng và tầm nhìn bình thường) Logo rõ ràng, lớp mạ bề mặt không bị bong tróc, hư hại.

1,5

A2a

Đặc điểm điện từ 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) trong JB/T 7624—1994 Đảo ngược cực :VFM>10USLIRRM>100USL

0,65

A2b

VFM 4.1(25℃) trong JB/T 7624—1994 Khiếu nại các yêu cầu

1.0

IRRM 4.4.3 (25℃,170℃) trong JB/T 7624—1994 Khiếu nại các yêu cầu
Lưu ý: USL là giá trị giới hạn tối đa.

2. Kiểm định định kỳ (kiểm định nhóm B và nhóm C)

Theo Bảng 2, các sản phẩm hoàn thiện trong quá trình sản xuất bình thường phải được kiểm tra ít nhất một lô Nhóm B và Nhóm C mỗi năm và các hạng mục kiểm tra được đánh dấu (D) là các kiểm tra phá hủy.Nếu kiểm tra lần đầu không đạt yêu cầu thì có thể lấy mẫu kiểm tra lại bổ sung theo Phụ lục Bảng A.2 nhưng chỉ một lần.

Bảng 2 Kiểm tra định kỳ (Nhóm B)

Nhóm Kiểm tra hàng

Phương pháp kiểm tra

Tiêu chuẩn

kế hoạch lấy mẫu
n Ac
B5 Chu kỳ nhiệt độ (D) tiếp theo là niêm phong
  1. Phương pháp hai hộp,-40℃,170℃ chu kỳ 5 lần, tiếp xúc với nhiệt độ cao và thấp trong 1 giờ trong mỗi chu kỳ, thời gian truyền (3-4) phút.
  2. Phương pháp phát hiện rò rỉ dầu flo điều áp.
Đo lường sau khi kiểm tra: VFM≤1.1USLIRRM≤2USLkhông rò rỉ 6 1
CRRL   Đưa ra ngắn gọn các thuộc tính có liên quan của mỗi nhóm, Vfmvà tôiRRMgiá trị trước và sau khi thử nghiệm, và kết luận thử nghiệm.

3. Kiểm tra định danh (kiểm tra nhóm D)

Khi sản phẩm được hoàn thiện và đưa vào thẩm định sản xuất, ngoài việc kiểm tra nhóm A, B, C, còn phải thực hiện kiểm tra nhóm D theo Bảng 3, và các hạng mục kiểm tra được đánh dấu (D) là kiểm tra phá hủy.Việc sản xuất bình thường các sản phẩm cuối cùng phải được kiểm tra ít nhất một lô Nhóm D ba năm một lần.

Nếu kiểm tra lần đầu không đạt, có thể lấy mẫu bổ sung kiểm tra lại theo Phụ lục Bảng A.2, nhưng chỉ một lần

Bảng kích thước đầy đủ

No

Nhóm Kiểm tra hàng

Phương pháp kiểm tra

Tiêu chuẩn

kế hoạch lấy mẫu
n Ac

1

D2 Kiểm tra tải chu trình nhiệt Thời gian chu kỳ: 5000 Đo lường sau khi kiểm tra:VFM≤1.1USL

IRRM≤2USL

6

1

2

D3 Sốc hoặc rung 100g: giữ 6ms, dạng sóng nửa hình sin, hai hướng 3 trục vuông góc với nhau, mỗi hướng 3 lần, tổng cộng 18 lần.20g: 100~2000Hz,2h mỗi hướng, tổng cộng 6h.

Đo lường sau khi thử nghiệm: VFM≤1.1USL

IRRM≤2USL

6

1

CRRL

  Đưa ra ngắn gọn dữ liệu thuộc tính có liên quan của từng nhóm, Vfm, IRRMvà tôiDRMgiá trị trước và sau khi thử nghiệm, và kết luận thử nghiệm.

 

đánh dấu và đóng gói

1. Đánh dấu

1.1 Dấu trên sản phẩm bao gồm

1.1.1 Số sản phẩm

1.1.2 Dấu hiệu nhận dạng thiết bị đầu cuối

1.1.3 Tên công ty hoặc nhãn hiệu

1.1.4 Mã nhận dạng lô kiểm tra

1.2 Logo trên thùng carton hoặc hướng dẫn kèm theo

1.2.1 Model sản phẩm và số tiêu chuẩn

1.2.2 Tên và logo công ty

1.2.3 Biển báo chống ẩm, chống mưa

1.3 Gói

Yêu cầu đóng gói sản phẩm phải tuân thủ các quy định trong nước hoặc yêu cầu của khách hàng

1.4 Tài liệu sản phẩm

Mẫu sản phẩm, số tiêu chuẩn triển khai, các yêu cầu về hiệu suất điện đặc biệt, hình thức bên ngoài, v.v. phải được nêu trên tài liệu.

Cácđiốt hànđược sản xuất bởi Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor được ứng dụng rộng rãi trong máy hàn điện trở, máy hàn tần số trung bình và cao lên đến 2000Hz trở lên.Với điện áp cực đại phía trước cực thấp, khả năng chịu nhiệt cực thấp, công nghệ sản xuất hiện đại, khả năng thay thế tuyệt vời và hiệu suất ổn định cho người dùng toàn cầu, đi-ốt hàn của Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor là một trong những thiết bị đáng tin cậy nhất của ngành điện Trung Quốc sản phẩm bán dẫn.

b0a98467d514938a3e9ce9caa04a1a1 ff2ea7a066ade614fecccf57c3c16b4 7b2fe59b4309965f7d2420828043e26


Thời gian đăng: 14-Jun-2023